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Talysurf CCI Lite全自動光學3D形貌測量儀 The Talysurf CCI Lite 是一臺良好的光學干涉 儀，它采用了創新的，**的相關相干算法， 去尋找通過光學掃描得到的干涉圖象中的一致 點與相位The Talysurf CCI Lite 對于高精度的3D測量 而言是無價的，通過采用不同的物鏡頭，可 以檢測不同的表面，全自動的工作臺能適應 高水平的靈活應用。

PGI Dimension光學三維形貌測量儀/輪廓儀 PGI Dimension把高精度、多功能測量與全自動控制完美地結合在一起.光學三維的PGI提供了必要的靈活性，擁有測量近乎垂直角度的能力 ，幾乎不受任何非球面設計的限制，從而可以測量跨越不業種類繁多的光學元件。

Talysurf CCI三維形貌儀非接觸輪廓儀 Talysurf CCI三維非接觸形貌儀采用CCI干涉原理，可高精度測量表面形貌、表面粗糙度及關鍵尺寸，并計算關鍵部位的面積和體積。主要應用于數據存儲器件，半導體器件，光學加工以及MEMS/MOEMS技術以及材料分析領域。

泰勒霍普森形狀（輪廓）和表面粗糙度測量儀 強大的測量能力：表面粗糙度、輪廓和 3D 測量： » 表面細節 - 高分辨率傳感器和低噪音軸能夠實現粗糙度和波紋度測量。 » 輪廓 - du家**權的校準技術能夠實現半徑、角度、高度、長度、距離等準確測量。 » 3D - 使用可選的自動 Y 移動臺和 Talymap 軟件 , 能夠輕松的將傳統的2D測量轉換為3D 測量工具。